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  • GT-BIR-66A半導體高溫老化柜
    GT-BIR-66A半導體高溫老化柜

    半導體高溫老化柜，也稱為ORT高溫老化柜，是一種專門用于半導體器件可靠性測試的設(shè)備。它通過模擬高溫、高濕、高壓等惡劣環(huán)境，對半導體器件進行長時間的老化處理，以評估其在實際使用環(huán)境中的性能表現(xiàn)和可靠性

    更新日期：2024-11-21型號：GT-BIR-66A
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